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一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介

可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱又名“恒溫恒濕試驗(yàn)箱”，與“高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱”屬同一系列，是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域必備的測(cè)試設(shè)備，用于測(cè)試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫、低溫、交變濕熱度或恒定試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。

二、測(cè)試原理

恒溫恒濕試驗(yàn)箱主要由控制系統(tǒng)、制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、加濕系統(tǒng)、送風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)和傳感系統(tǒng)組成
 控制系統(tǒng)：
       控制系統(tǒng)是恒溫恒濕試驗(yàn)箱的核心控制部分,它決定了恒溫恒濕試驗(yàn)箱的升溫速率，精度等重要指標(biāo)?，F(xiàn)在試驗(yàn)箱的控制器大都采用PID控制，也有少部分采用PID與模糊控制相組合的控制方式。由于控制系統(tǒng)基本上屬于軟件的范疇，而且此部分在使用過程中，一般不會(huì)出現(xiàn)問題。

制冷及加熱系統(tǒng) ：
制冷
       制冷系統(tǒng)是綜合試驗(yàn)箱的關(guān)鍵部分之一。一般來說，制冷方式都是機(jī)械制冷以及輔助液氮制冷，機(jī)械制冷采用蒸汽壓縮式制冷，它們主要由壓縮機(jī)，冷凝器，節(jié)流機(jī)構(gòu)和蒸發(fā)器組成。如果我們?cè)囼?yàn)的溫度低溫要達(dá)到-55℃，單級(jí)制冷難以滿足要求，因此恒溫恒濕箱的制冷方式一般采用復(fù)疊式制冷。恒溫恒濕箱的制冷系統(tǒng)由兩部分組成，分別稱為高溫部分和低溫部分，每一部分是一個(gè)相對(duì)獨(dú)立的制冷系統(tǒng)。高溫部分中制冷劑的蒸發(fā)吸收來自低溫部分的制冷劑的熱量而汽化;低溫部分制冷劑的蒸發(fā)則從被冷卻的對(duì)象(試驗(yàn)箱內(nèi)的空氣)吸熱以獲取冷量。高溫部分和低溫部分之間是用一個(gè)蒸發(fā)冷凝器聯(lián)系起來，它既是高溫部分的冷凝器，也是低溫部分的冷凝器。 
     加熱 
試驗(yàn)箱的加熱系統(tǒng)相對(duì)制冷系統(tǒng)而言，是比較簡(jiǎn)單。它主要有大功率電阻絲組成，由于試驗(yàn)箱要求的升溫速率較大，因此試驗(yàn)箱的加熱系統(tǒng)功率都比較大，而且在試驗(yàn)箱的底板也設(shè)有加熱器

濕度系統(tǒng)：
        恒溫恒濕箱的濕度系統(tǒng)分為加濕和除濕兩個(gè)子系統(tǒng)。恒溫恒濕試驗(yàn)箱的加濕方式一般采用蒸汽加濕法,即將低壓蒸汽直接注入試驗(yàn)空間加濕.這種加濕方法加濕能力,速度快,加濕控制靈敏,尤其在降溫時(shí)可以輕易實(shí)現(xiàn)強(qiáng)制加濕。
       可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱的除濕方式有兩種：機(jī)械制冷除濕和干燥除濕。機(jī)械制冷除濕的除濕原理是將空氣冷卻到露點(diǎn)溫度以下，使大于飽和含濕量的水汽凝聚析出,這樣就降低了濕度。干燥器除濕是利用氣泵將恒溫恒濕試驗(yàn)箱內(nèi)的空氣抽出,并將干燥的空氣注入,同時(shí)將濕空氣送入可循環(huán)利用的干燥室內(nèi)進(jìn)行干燥,干燥完后又送入試驗(yàn)箱內(nèi)，如此反復(fù)循環(huán)進(jìn)行除濕?，F(xiàn)在大部分恒溫恒濕試驗(yàn)箱采用機(jī)械制冷除濕方式,而干燥除濕方式,可以使露點(diǎn)溫度達(dá)到0℃以下.適用于有非凡要求的場(chǎng)合,但價(jià)格較貴。

傳感器系統(tǒng)：
       恒溫恒濕試驗(yàn)箱的傳感器主要是溫度和濕度傳感器。溫度傳感器應(yīng)用較多的是鉑電組和熱電偶.濕度的測(cè)量方法有兩種:干濕球溫度計(jì)法和固態(tài)電子式傳感器直接測(cè)量法.

空氣循環(huán)系統(tǒng)：
       恒溫恒濕試驗(yàn)箱的空氣循環(huán)系統(tǒng)一般有離心式風(fēng)扇和驅(qū)動(dòng)其運(yùn)轉(zhuǎn)的電機(jī)構(gòu)成。它提供了恒溫恒濕試驗(yàn)箱內(nèi)空氣的循環(huán)。

三、測(cè)試產(chǎn)品

四、儀器組成

五、應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)

?GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
?GB/T 10586 -2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
?GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫
?GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
?GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)
?GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）
?GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則
?GJB 150.3A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分：高溫試驗(yàn)
?GJB 150.4A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分：低溫試驗(yàn)
?GJB 150.9A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第9部分：濕熱試驗(yàn)